我校1件发明专利拟转让中科智谷（湖北）科技有限公司。根据《中华人民共和国促进科技成果转化法》《武汉工程大学科技成果转化管理办法》（武工大科发[2025]5号）相关要求，经双方协商最终确定转让总金额为0.13万元（大写：壹仟叁佰元整）。目前，全体发明人同意该专利成果转让。
公示期15天（2026年10月28日-2026年11月11日）。若有异议请在公示期内如实向科学技术发展院书面反映情况。联系电话：027-65520180。
特此公示。
专利名称：基于阿秒条纹谱的电子轨道半径测量方法、系统和介质
专利号：2019103503791
发明人：王凤;廖青;王哲;张晓凡;秦梅艳;刘凯
专利权人：武汉工程大学
发明简介：本发明涉及一种基于阿秒条纹谱的电子轨道半径测量方法、系统和介质，方法包括获取多个红外电场分别和单个阿秒脉冲激光共同作用在工作气体上产生的阿秒条纹谱，以及获取在多个电子初始位置下，多个红外电场分别和单个阿秒脉冲激光共同作用在工作气体上产生的多个经典条纹轨迹；根据阿秒条纹谱获取工作气体的光电离时间延迟，并根据多个经典条纹轨迹获取工作气体对应的多个经典光电离时间延迟；根据光电离时间延迟和多个经典光电离时间延迟获取工作气体对应的电子轨道半径。本发明基于阿秒条纹谱，能实现对电子轨道半径的直接测量，方法理论简单，计算难度低，计算量小，精度高，突破了目前还没有直接测量电子轨道半径的瓶颈，意义深远。
武汉工程大学科学技术发展院
2026年10月28日
